偉旺科技TECHNICAL INSIGHTS / AOI 檢測技術
線掃描 AOI 與面掃描相機：如何選擇？
線掃描 AOI 與面掃描相機如何選擇？比較影像形成方式、視野、運動同步、光源與檢測節拍，協助評估工業機器視覺方案。
兩種取像方式的核心差異
線掃描相機逐行取得影像，通常配合工件或相機移動拼接成完整畫面；面掃描相機一次擷取二維影像。選擇方式應依工件尺寸、移動條件與檢測需求評估。
何時考慮線掃描 AOI
連續移動的材料、長幅面或大面積工件，可能適合線掃描。必須同步確認編碼器、線頻、輸送速度與照明均勻度，避免影像比例失真或遺漏。
何時考慮面掃描
定點定位、局部量測、Mark 對位與較小視野的檢測，常可先評估面掃描方案。若需多站拍攝，也要考慮機構定位與整體節拍。
解析度不是只看相機像素
應先定義最小待檢缺陷尺寸、視野範圍及所需像素覆蓋數，再推估物方像素尺寸。光學對比、景深、振動及演算法也會影響可檢出性。
評估前需要準備的資料
請提供工件尺寸、材料、缺陷樣本、最小缺陷、輸送速度、安裝空間與目標節拍。實際檢出能力應透過代表性樣品試拍驗證。