検査面と欠陥の種類を整理
パネル表面、ガラス端面、フィルムでは正常な模様が異なります。工程、検査面、判定基準を対象ごとに定義します。
- 傷・異物・汚れ
- ガラスのクラック・エッジ欠け・角欠け
- 貼り合わせ位置のずれ・輪郭の差異
材質に合わせた照明設計
透明材料と反射性材料では、適した照明構成が異なります。試験撮像では欠陥と正常パターン、反射、材料構成の変動を比較します。
- 透過・反射特性を確認
- 正常パターンとの誤認識を評価
- 代表ロットで撮像の安定性を検証
外観 AOI と点灯パネル検査
表面検査と、表示輝度・色・画素の点灯状態・ムラの評価では検査条件が異なります。点灯状態、撮像条件、判定方法を個別に定義します。
サンプル評価から設備への組み込みへ
欠陥寸法と判定基準を確認し、視野、ROI、ラインのタイミング、出力データを検討します。課題に応じてルールベース検査と AI を評価します。
- 代表的な欠陥と判定境界サンプルを用意
- 全面検査・部分検査の範囲を定義
- PLC ハンドシェイクと追跡データを確認
よくあるご質問
クラックと傷の検査設定は共用できますか？
検証が必要です。欠陥の種類によって照明や正常パターンの影響が異なります。
半導体 AOI のパラメータをそのまま流用できますか？
材質、視野、判定条件が異なるため、撮像条件と判定ルールを再検証します。